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Vom Standpunkt der EMV her gesehen, ist der Prüfling (EUT, Equipment Under Test) eine Antennenstruktur. Diese empfängt das
von der Sendeantenne abgestrahlte Feld, d.h. im Prüfling bilden sich HF-Spannungen und -ströme aus. Dies gilt für alle mit dem Prüfling verknüpften Leitungsstrukturen. Bei tiefen Frequenzen, z.B. einigen 10 MHz ist dies in erster Linie der Kabelbaum. Bei höheren Frequenzen ist hiervon aber ebenso die Leiterplatte selbst betroffen. Und die meßtechnische Praxis belegt, daß bereits bei Frequenzen von wenigen 100 MHz auch die direkte Einstrahlung auf Leitungsstrukturen in Halbleitern zum ernsten EMV-Problem werden kann. Diese HF-Spannungen und -ströme können nun Beeinflussungen hervorrufen, z.B. eine Verfälschung von Meßwerten, ungewolle Funktionen oder RESETs. |
Dabei ruft die HF-Störung selbst nur selten eine Beeinflussung hervor. In den meisten Fällen kommt es
zunächst zu einer HF-Gleichrichtung an nichtlinearen Strecken1).
Die Beeinflussung wird dann durch das demodulierte (d.h., niederfrequente) Störsignal hervorgerufen. Über die Diagnose-Schnittstelle können diese (beeinflußten) Werte und Stati abgefragt werden. Im oben gezeigten EMV-Meßaufbau wird hierzu die K-Leitung verwendet. 1) Nichtlineare Strecken können einfache PN-Übergänge sein, wie sie in Halbleitern
zu Tausenden integriert sind. Dabei ist es unerheblich, ob diese z.B. als Überspannungsschutz, Eingangsverstärker,
Logikglied oder Ausgangsstreiber verwendet werden.
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